Рассмотренные в смежных публикациях методы экспериментального исследования структуры материалов в настоящее время проводятся с использованием различных приборов и установок, выпускаемых различными фирмами. Ниже приводятся фотографии нескольких характерных установок и дается описание некоторых их характеристик (рис. 1—7).
Electron Probe Micro-Analyser (ΕΡΜΑ) SX100 — полностью цифровой инструмент, обеспечивает быстрое и качественное определение элементного состава исследуемого объекта (рис. 1). Используется в материаловедении, геологии и других областях исследований. Элементы от Be до U могут быть определены при малом содержании и измерены.
Сканирующий электронный микроскоп (SEM) типа JSM-6490 с уникальной электронно-оптической системой, которая предоставляет возможность получать высокое разрешение при различных уровнях ускоряющих напряжений (рис. 2).
Сканирующий электронный микроскоп (SEM) для аналитических исследований имеет энерго-дисперсионный рентгеновский анализатор (EDS), при этом микроскоп и анализатор интегрированы в одной системе. Наблюдение и анализ могут быть сделаны на одном и том же выбранном для исследования участке, так как EDS — анализ включен в операционное меню сканирующего электронного микроскопа.
Electron Probe Micro-Analyser (ΕΡΜΑ) SX100 -электронозондовый микроанализатор
Рис. 1. Electron Probe Micro-Analyser (ΕΡΜΑ) SX100 -электронозондовый микроанализатор — оптимальный инструмент для микроанализа материала и его поверхности.
Сканирующий электронный микроскоп
Рис. 2. Сканирующий электронный микроскоп (SEM) типа JSM-6490.

XPert PRO MRD Multi-Purpose Diffractometer
Рис. 3. XPert PRO MRD Multi-Purpose Diffractometer (MRD) — современный многоцелевой дифрактометр
Рентгеновский дифрактометр ДРОН
Рис. 4. Рентгеновский дифрактометр типа ДРОН


Рис. 5. Inel МRD (Multi Purpose Diffractometer)

Рис. 6. Современный оптический микроскоп с цифровой камерой

Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп
Рис. 7. Scanning Transmission Electron Microscope (Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп) JEM-1400

При расчетах относительную интенсивность характеристических пиков (за вычетом фона) используют как “первое приближение” X Pert PRO MRD Multi-Purpose Diffractometer (MRD) —  современный многоцелевой дифрактометр (рис. 3). Система MRD часто используется для исследования тонких пленок и измерения напряжений и текстуры. Основная функция рентгеновского порошкового дифрактометра это идентификация кристаллических материалов. Дифрактометр имеет современную базу данных, которая является основой для решения задач данного типа. Это позволяет идентифицировать вещество в случае сложных смесей.
Имеющаяся база данных позволяет решать задачи не только качественного, но и количественного определения различных фазовых составляющих исследуемых материалов. В дифрактометре имеется много различных программ для исследования любых задач современного структурного металловедения.
Дифрактометр типа ДРОН широко применяется в различных областях науки и промышленности, в том числе в физике, химии, геологии, машиностроении, горнодобывающей промышленности (рис. 4). С помощью дифрактометра проводятся исследования структуры веществ, фазового состава сталей и сплавов, уровня напряженного состояния структуры материалов, типа текстуры в материалах и т. д.
Дифрактометр также широко используется при проведении экспертизных работ в случае аварийных ситуаций при установлении причин.
Inel MRD (Multi Purpose Diffractometer) — рентгеновский дифрактометр многоцелевого применения с высокочувствительным детектором, гониометром (вертикальным или горизонтальным), рентгеновским генератором и различными приспособлениями для выполнения различных задач:

  1. идентификации фазовых составляющих,
  2. количественного анализа,
  3. микродиффракции,
  4. анализа тонких пленок,
  5. нарушений структуры и т.д.

Применяется в различных областях науки и техники (рис. 5).
Современный оптический микроскоп с цифровой камерой позволяет оценивать численные параметры контрастного изображения микроструктуры материалов: толщину слоев, количество и размер структурных составляющих, расстояния между частицами и т.д. (рис. 6).
Scanning Transmission Electron Microscope ТЕМ — сканирующий просвечивающий электронный микроскоп JEM-1400 обеспечивает высокое качество и высокий уровень контрастного изображения во всем диапазоне увеличений. Встроенная цифровая CCD-камера обеспечивает высокое качество цифрового изображения (рис. 7).